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简化RoHS筛查
这款**的有害物质分析仪专为在制造厂中发挥关键作用而设计,以符合**指令要求。EA1400台式XRF光谱仪采用**的检测技术和创新的x射线光学设计,用于快速筛查RoHS物质。EA1400助力客户进行所需的筛查,以加快和简化生产环境中的RoHS检测,并允许客户随指令变化更新物质控制标准。
全新的硅漂移探测器(SDD)设计能提高分析镉和铅等RoHS物质的准确度和速度。新优化的x射线照射方法可提高分析不平坦和不规则表面的可重现性。此外,高性能探测器能提高计数率,增加探测痕量元素的精密度,并且实现测量较轻元素的**能力。为了确保**生产率,将黄铜中镉的筛查(通常是XRF RoHS筛查中**挑战性的一项)功能设计成比传统型号速度更快,从而大幅提高通量。
该软件的一项内置功能可直观标记超出预设浓度限制的预定义元素。使用精密度控制软件的EA1400一旦达到预定义参数将自动停止分析。可在预定义测量时间之前确定合格/失败情况,由此可增加测量多件样本的通量,从而节省时间且不会影响质量计划。
除了RoHS筛查,EA1400也能够辨别矿渣(硅、钙、铝和镁)、聚合物、矿物、化学品和其他材料中的主要成分。
日立分析仪器产品经理Ashley-Kate McCann表示:“客户需要我们帮助其缩短测量每件样品的时间、简化测量结果管理、减少操作失误、提高效率。EA1400在满足此类客户需求的同时还能实现更高的检出限,且可为当前和未来不断变化的RoHS和其他限制物质指令提供一种筛查工具。”
探测器:SSD(无需液氮)
元素范围:Al(11)至U(92)
样品状态:固体/粉末/液体
测量面积:1 mmφ、3 mmφ、5 mmφ(电动切换)
样品舱:宽304×深304×高110毫米
过滤器:4款,5种模式,自动切换
样品观察:CCD全彩摄像机
操作:台式机电脑
现在就可订购EA1400。